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Erg SOCKET

최적화된 전기적 특성과 기구 설계를 적용하여
반도체 테스트 공정에 최고의 품질 및 테스트 솔루션 제공

전문가로 구성된 엔지니어링 공정을 통해 우수한 품질과 빠른 납기를 보장합니다.

erg socket_lga

LGA & QFN TEST

Type Characteristics

  • 01Probe Tip의 내마모성 향상을 통한 Life Time 증가
  • 02특수 코팅을 통한 주석 전이 지연 솔루션 제공
  • 03최고급 재질 사용으로 변형 최소화
  • 04정밀한 계측 및 가공 정밀도 향상을 통한 품질 신뢰도 구축
  • 05정밀 가공을 통한 Device Guide 오류 최소화

Composition

  • IOT

    IOT

  • MEMORY

    MEMORY

  • PMIC

    PMIC

  • GPU

    GPU

LGA & QFN TEST