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Silla SOCKET

덕산테스틱스의 강력하고 혁신적인 WLCSP 테스트 기술을 결합한
뛰어난 웨이퍼 레벨 테스트 솔루션

나날이 발전하는 스마트기기의 핵심 부품에 대한 높은 테스트 수율을 보장하며
보다 정밀하고 미세한 공정의 수요로 이어지는 개발 환경에 대응하는 확실한 솔루션입니다.

silla socket

Wafer Level TEST

Type Characteristics

  • 01낮은 접촉저항 구현
  • 02온 습도의 변화에 높은 내구성을 갖는 재료
  • 03구조 분석을 통한 강성 확보 설계
  • 04정밀 가공을 통한 품질 향상
  • 05간편한 유지보수
  • 06뛰어난 신호 무결성 구현
  • 07세라믹 소재 적용

Composition

  • 5th Generation Mobile Telecommunication

    PMIC

  • Defense Industry

    Wafer

  • Processor In Memory

    Processor In Memory

sillaSocket